在线观看无码视频,久操尤物av,波多野结衣AV二区,美女综合一区

技術(shù)支持

您現(xiàn)在的位置:首頁  >  技術(shù)文章  >  應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振
更新時(shí)間:2024-08-27瀏覽:240次

原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

引言

隨著人類科研的不斷發(fā)展, 納米尺度上物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、相互作用以及一些特殊的現(xiàn)象等越來越受到關(guān)注,所以各種研究方法和儀器手段也應(yīng)運(yùn)而生,比如原子力顯微鏡。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是一種掃描探針顯微鏡,主要通過測量探針與被測物質(zhì)表面之間的相互作用力來實(shí)現(xiàn)對原子和分子級(jí)別的表面形貌和物理特性的表征和觀測。原子力顯微鏡既可以觀察導(dǎo)體,也可以觀察非導(dǎo)體。以高分辨率、高靈敏度、高可重復(fù)性等優(yōu)點(diǎn),結(jié)合主動(dòng)隔振的測試環(huán)境,在材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域得到極為廣泛的應(yīng)用。

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

AFM 的工作原理

AFM 由一個(gè)對微弱力極敏感的彈性微懸臂(通常是氮化硼),在其*端有一個(gè)用來在樣品表面上掃描的很尖細(xì)的探針(針尖的下端通常只有幾個(gè)納米的尺寸),通過探測針尖與樣品之間的相互作用力來獲得表面拓?fù)鋱D,以及其在物理參數(shù)(例如硬度、電荷密度)方面的評價(jià)。

此作用力為原子間的排斥力或吸引力即范德華力(Van Der Waals Force),假設(shè)有兩個(gè)原子,一個(gè)是在微懸臂的探針*端,另一個(gè)是在樣品的表面,它們之間的作用力會(huì)隨著距離的變化而變化。當(dāng)原子和原子很接近時(shí),彼此的電子云排斥力作用會(huì)大于原子核與電子云之間的吸引作用,其合力表現(xiàn)為排斥作用。反之,若兩原子分開到一定距離時(shí),其電子云的排斥作用小于彼此原子核與電子云之間的吸引力作用,故其合力表現(xiàn)為吸引作用。在原子力顯微鏡系統(tǒng)中,該作用力隨樣品表面形態(tài)而變化,它會(huì)使微懸臂隨之?dāng)[動(dòng)。將一束激光照射在微懸臂的末端,當(dāng)微懸臂擺動(dòng)時(shí),會(huì)使反射激光的位置改變而造成偏移量,用激光檢測器記錄此偏移量,同時(shí)將此信號(hào)傳遞給反饋系統(tǒng),以利于系統(tǒng)做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整,從而將樣品表面特征以影像的方式顯現(xiàn)出來。


應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

AFM 為什么需要主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)?

AFM 常見的工作模式有三種:接觸、輕敲和相位移模式。

接觸模式:微懸臂探針緊壓樣品表面,檢測時(shí)與樣品保持接觸,作用力(斥力)通過微懸臂的變形進(jìn)行測量;

輕敲模式:針尖與樣品表面相接觸,用處于共振狀態(tài)、上下振蕩的微懸臂探針對樣品表面進(jìn)行掃描,樣品表面起伏使微懸臂探針的振幅產(chǎn)生相應(yīng)變化,從而得到樣品的表面形貌。該模式下,掃描成像時(shí)針尖對樣品進(jìn)行“敲擊",兩者間只有瞬間接觸,能有效克服接觸模式下因針尖的作用力,尤其是橫向力引起的樣品損傷,適合于柔軟或吸附樣品的檢測;

相位移模式:輕敲模式的一項(xiàng)重要擴(kuò)展技術(shù),通過檢測驅(qū)動(dòng)微懸臂探針振動(dòng)的信號(hào)源的相位角與微懸臂探針實(shí)際振動(dòng)的相位角之差(即兩者的相移)的變化來成像。引起該相移的因素很多,如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)等。因此利用相位移模式,可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質(zhì)的豐富信息。迄今相位移模式已成為原子力顯微鏡的一種重要檢測技術(shù)。

以上,無論哪一種工作模式,如果工作環(huán)境有振動(dòng),即便是微弱的,都會(huì)對納米尺度的針尖工作和移動(dòng)帶來較大甚至破壞性的影響,無法獲得準(zhǔn)確且可靠的數(shù)據(jù)。

主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)是一種高精度的實(shí)驗(yàn)平臺(tái),它通過主動(dòng)控制技術(shù)來減少或消除外界因素對實(shí)驗(yàn)的影響,確保實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。這種平臺(tái)通常由臺(tái)面和主動(dòng)隔振支撐兩部分組成,其中臺(tái)面采用特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),如真蜂窩三層夾心式結(jié)構(gòu),以確保其具有良好的穩(wěn)定性和精度。主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)的隔振支撐系統(tǒng)通過安裝有洛倫茲電機(jī),實(shí)現(xiàn)水平和豎直方向上的精確控制,通過冗余控制策略,確保平臺(tái)的穩(wěn)定性和實(shí)驗(yàn)的精確性。此外,這些平臺(tái)還具備六自由度的主動(dòng)控制能力,能夠自動(dòng)調(diào)整并保持水平,對于原子力顯微鏡等高精度光學(xué)儀器的使用至關(guān)重要,確保了實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和可靠性。

主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)

北京卓立漢光儀器有限公司針對高精密測試設(shè)備提供桌面式隔振臺(tái)和主動(dòng)隔振桌等主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)。桌面式隔振臺(tái)包括Accurion i4和Accurion Nano系列,主動(dòng)隔振桌包括Workstation_i4和Workstation_Vario系列。

Accurion i4 系列

i4是一種先進(jìn)的主動(dòng)隔振臺(tái),它可抵消敏感設(shè)備的不必要振動(dòng)和其他干擾對高精度測量設(shè)備產(chǎn)生的影響。具有低剖面低碳設(shè)計(jì)、操作簡單、穩(wěn)定時(shí)間短、弱的低頻共振等特點(diǎn)。隔振從0.6Hz開始,在10Hz時(shí)達(dá)到最佳效果,40分貝,99%的振動(dòng)被隔離。另外,低頻共振是主動(dòng)減震臺(tái)和被動(dòng)減震臺(tái)的最大區(qū)別,在低頻率震動(dòng)中,被動(dòng)隔震臺(tái)將會(huì)放大振動(dòng)而不是隔離振動(dòng)。隔震臺(tái)的工作不需要壓縮空氣,只需要供應(yīng)電源的插座。在六個(gè)自由度的方向上,i4系列隔震臺(tái)都提供了主動(dòng)補(bǔ)償,以實(shí)現(xiàn)隔震效果。


應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

圖 Accurion i4 系列主動(dòng)隔振臺(tái)

  • 六個(gè)自由度主動(dòng)隔振

  • 無低頻共振 - 低頻范圍內(nèi)具有優(yōu)異的隔振特性

  • 低至0.6Hz開始主動(dòng)隔振(>200Hz 被動(dòng)隔振)

  • 只需0.3秒的設(shè)置時(shí)間

  • 自動(dòng)調(diào)節(jié)負(fù)載

  • 因固有剛度具有高度的位置穩(wěn)定性

  • 接電即可,無需壓縮空氣

  • 真正的主動(dòng)隔振:即時(shí)產(chǎn)生反作用力來抵消振動(dòng)

  • 廣泛的適用范圍: 擁有標(biāo)準(zhǔn)化

  • 適用于多種應(yīng)用的多功能隔離系統(tǒng)

Accurion Nano 系列

Nano系列主動(dòng)隔振臺(tái)的設(shè)計(jì)適用于小型和輕量的隔振應(yīng)用,例如用作原子力顯微鏡的隔振。該系統(tǒng)不需要任何負(fù)載調(diào)整,只需釋放運(yùn)輸鎖就可以使用,用戶不需要進(jìn)一步的操作。設(shè)計(jì)簡單,價(jià)格實(shí)惠,此外,有一個(gè)較小的外部控制器,通過數(shù)據(jù)線連接到隔振臺(tái),這樣設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)是隔振臺(tái)本身不會(huì)產(chǎn)生熱量,因此不會(huì)對隔振儀器產(chǎn)生影響,這對于在隔音罩內(nèi)使用并且對熱敏感的應(yīng)用非常重要??刂破鬟h(yuǎn)離被隔振的儀器,以消除控制器電子器件產(chǎn)生的潛在電磁干擾。

主動(dòng)隔振臺(tái)有專門設(shè)計(jì)的焊接鋼架結(jié)構(gòu)承重桌,這是可選附件。承重桌具有很高的水平和垂直剛度,是主動(dòng)隔振臺(tái)實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀隔離性能的理想實(shí)驗(yàn)桌。用戶可以根據(jù)實(shí)際需要,選取不同尺寸的承重桌。


應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

圖 Nano 系列主動(dòng)隔振臺(tái)

  • 六個(gè)自由度主動(dòng)隔振

  • 無低頻共振 - 低頻范圍內(nèi)具有優(yōu)異的隔振特性

  • 低至 0.7Hz 開始主動(dòng)隔振(>200Hz 被動(dòng)隔振)

  • 接電即可,無需壓縮空氣

  • 簡單操作,無需負(fù)載調(diào)整

  • 只需 0.3 秒的設(shè)置時(shí)間

  • 主動(dòng)隔振桌采用高強(qiáng)度材料和堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì), 具有優(yōu)異的穩(wěn)定性

  • 外部控制單元

  • 小型、輕量、超精確需求的理想解決 方案。

  • 主動(dòng)隔振桌采用高強(qiáng)度材料和堅(jiān)固 的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),具有優(yōu)異的穩(wěn)定性

  • 外部控制單元

Workstation_i4 和 Workstation_Vario 系列

Workstation_i4設(shè)計(jì)用于與光學(xué)顯微鏡或顯微鏡/SPM組合一起使用。隔離表面由防刮MDF板包圍,方便扶手或作為存儲(chǔ)區(qū)域。根據(jù)客戶要求,三個(gè) i4版本中的任何一個(gè)都可以集成到工作站中。

Workstation_Vario系統(tǒng)配有鋼框架嵌入式光學(xué)實(shí)驗(yàn)板作為工作桌面。具有擴(kuò)展性,周邊框架可用于隔音罩的安裝。與 Workstation_i4 相比,這些版本適用于更大、更重的應(yīng)用程序。

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

Workstation_i4                             Workstation_Vario

  • 六個(gè)自由度主動(dòng)隔振

  • 無低頻共振 - 低頻范圍內(nèi)具有優(yōu)異的隔振特性

  • 自動(dòng)調(diào)節(jié)負(fù)載和運(yùn)輸鎖定

  • 只需 0.3 秒的設(shè)置時(shí)間

  • 接電即可,無需壓縮空氣

  • 符合人體工學(xué)的座椅

  • 因固有剛度具有高度的位置穩(wěn)定性

  • 廣泛的適用范圍: 擁有標(biāo)準(zhǔn)化

相關(guān)應(yīng)用

原子力顯微鏡是一種非常強(qiáng)大的工具,可以被應(yīng)用于很多領(lǐng)域:

(1)材料科學(xué)

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

材料表征:納米粒子、原子層材料、碳納米管等。             材料力學(xué)性質(zhì):硬度、彈性、塑性等

(2)生物領(lǐng)域

生物樣品表征:對生物細(xì)胞、蛋白質(zhì)、分子等進(jìn)行表征和成像,為生物學(xué)中的結(jié)構(gòu)研究提供了高分辨率的手段。

材料學(xué)和生物學(xué)的融合:研究生物分子的交互作用、診斷疾病和制備分子電子學(xué)和生物電子學(xué)的材料。

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

納米醫(yī)學(xué):藥物傳遞系統(tǒng)、納米粒子檢測等

(3)化學(xué)領(lǐng)域

化學(xué)品的檢測和表征:測量材料的電荷密度、催化劑的活性和分子間的相互作用效率。此外,可 以用于繪制分子形貌和分析反應(yīng)進(jìn)程及反應(yīng)物的表面活性。

總 結(jié)

北京卓立漢光儀器有限公司自主研制的主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)能提供高穩(wěn)定性環(huán)境,對于原子力顯微鏡等高精度光學(xué)儀器的使用至關(guān)重要,為廣大科研工作者的科學(xué)研究帶來強(qiáng)有力穩(wěn)定性支撐。

相關(guān)產(chǎn)品

應(yīng)用案例 | 原子力顯微鏡 AFM 與主動(dòng)隔振

免責(zé)聲明

北京卓立漢光儀器有限公司公眾號(hào)所發(fā)布內(nèi)容(含圖片)來源于原作者提供或原文授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章版權(quán)、數(shù)據(jù)及所述觀點(diǎn)歸原作者原出處所有,北京卓立漢光儀器有限公司發(fā)布及轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息及用于網(wǎng)絡(luò)分享。

如果您認(rèn)為本文存在侵權(quán)之處,請與我們聯(lián)系,會(huì)第一時(shí)間及時(shí)處理。我們力求數(shù)據(jù)嚴(yán)謹(jǐn)準(zhǔn)確, 如有任何疑問,敬請讀者不吝賜教。我們也熱忱歡迎您投稿并發(fā)表您的觀點(diǎn)和見解。

北京卓立漢光儀器有限公司 版權(quán)所有    備案號(hào):京ICP備05015148號(hào)-4

技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    管理登陸    網(wǎng)站地圖

聯(lián)系電話:
010-5637 0168-696

微信服務(wù)號(hào)