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“卓立造,中國芯”——2023年度新品發(fā)布會精彩搶先看
更新時間:2022-12-02瀏覽:1293次

北京卓立漢光儀器有限公司將于2022年12月27日在上海舉辦“卓立造,中國芯"——2023年度新品發(fā)布會,屆時將為大家解鎖多款卓立漢光公司自主研發(fā)的新產(chǎn)品和解決方案,包括匠心打造的高精度“精工"系列光機(jī)/激光產(chǎn)品,微觀時空分辨的飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)/顯微熒光壽命成像系統(tǒng)/瞬態(tài)光電流與光電壓分析系統(tǒng),以及針對半導(dǎo)體行業(yè)和在線檢測的解決方案。

精彩敬請期待。

 

發(fā)布會亮點(diǎn)搶先看

 

HXP系列六軸并聯(lián)機(jī)器人:揭秘全自由度運(yùn)動

高精度、高集成度、高效率的全自由度運(yùn)動,適合于空間精密對位,微小器件加工和裝配,光通信器件調(diào)芯,晶片檢驗等應(yīng)用

 

納米壓電位移臺:納米至亞納米量級的高精度運(yùn)動控制

可選控制方式為線性,旋轉(zhuǎn),擺角,掃描。最小單步步長可達(dá)10nm,使用20kHz超聲頻段驅(qū)動,刺耳運(yùn)動噪聲。全系產(chǎn)品均可提供超高真空兼容版本以及無磁版本以滿足特殊工況要求。

 

TBR57電動旋轉(zhuǎn)臺無懼工況復(fù)雜、高耐用性要求的自動化生產(chǎn)線

導(dǎo)向機(jī)構(gòu)采用精密交叉滾柱軸環(huán)負(fù)載能力強(qiáng)、耐用性好,可水平、豎直、倒置使用;調(diào)隙機(jī)構(gòu)設(shè)計,有效較小背隙。高耐磨性、高硬度,內(nèi)置零位傳感器,使用方便。

 

TPR氣浮隔振& DRN阻尼隔振光學(xué)平臺: 為精密光學(xué)實驗隔振護(hù)航

TPR氣浮隔振平臺,使用了三線擺+層流阻尼技術(shù),對水平和豎直方向的震動有非常好的隔振效果,技術(shù)先進(jìn),性能佳。5Hz隔振效率高達(dá)85%。

DRN阻尼隔振光學(xué)平臺,采用雙頻阻尼隔振機(jī)構(gòu)配合低固有頻率材料,使整體固有頻率降低到9Hz以下,為精密光學(xué)實驗提供穩(wěn)定且隔振的實驗平臺。

 

焦斑分析儀&采樣衰減模塊: 無需繁瑣光路調(diào)試,助力高精度微納加工

焦斑分析儀采用高機(jī)械精度一體化設(shè)計,整體光軸偏移控制在0.5°以內(nèi),可校準(zhǔn)的放大率,三種貼心安裝方式,靈活可拆分的鏡頭和部件,滿足客戶個性的需求。

采樣衰減模塊采用較高機(jī)械精度固定部分自由度,幫助客戶提高光路的可重復(fù)性,更加容易調(diào)出兩套比較一致的衰減系統(tǒng)。衰減值切換,模塊組合、系統(tǒng)集成的便利性,可為客戶節(jié)約大量成本、時間和精力。

 

Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng): 看見載流子的運(yùn)動

集成像和動力學(xué)于一體,聯(lián)合飛秒泵浦-探測技術(shù)和顯微技術(shù),通過自主知識產(chǎn)權(quán)的干涉放大技術(shù)增強(qiáng)圖像信噪比,可獲得高質(zhì)量的成像效果并大幅度縮短測試時間。高靈敏、高通量,可測量到單個納米顆粒、單層石墨烯乃至單層分子晶體的瞬態(tài)吸收信號。

 

顯微熒光壽命成像系統(tǒng):基于光譜儀搭建,Mapping更輕松

基于高靈敏度時間相關(guān)單光子計數(shù)TCSPC設(shè)計,聯(lián)合科研級正置顯微鏡和光譜儀,F(xiàn)L Mapping和Lifetime Mapping 無縫切換。定位精度<1um,多類型激光器可選,內(nèi)部光學(xué)元件可以支持多路激光耦合

 

TPV/TPV分析系統(tǒng): 光電器件動力學(xué)過程解析利器

光電測試系統(tǒng)針對光電器件動力學(xué)分析新開發(fā)的功能,可得到光生電的響應(yīng)時間,如上升/下降時間,瞬態(tài)光電流與瞬態(tài)光電壓曲線。從而可以分析光電器件內(nèi)部的動力學(xué)過程,如載流子的遷移率、載流子的壽命、載流子的擴(kuò)散長度等。

 

SPM 系列半導(dǎo)體測試方案:專為半導(dǎo)體測試應(yīng)用而生

SPM300系列半導(dǎo)體參數(shù)測試儀/SPM600系列半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/SPM900系列少子壽命成像測試儀,面向半導(dǎo)體行業(yè)推出的專用機(jī)型,可進(jìn)行載流子濃度表征、應(yīng)力分析、雜質(zhì) /缺陷分析、載流子壽命分析、光電測試分析等

 

在線LIBS+PLIF解決方案:原位實時檢測,快速定性定量

激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)利用脈沖激光激發(fā)出所含物質(zhì)的對應(yīng)譜線進(jìn)行含量成分分析。其優(yōu)點(diǎn)在于快速,簡單,不受樣品性狀影響,并且既可以定性分析,又可以進(jìn)一步進(jìn)行定量分析。

片光源激光誘導(dǎo)熒光(PLIF)是利用將激光整形成厚約幾毫米的片光源激發(fā)燃燒場獲得燃燒場中化學(xué)成分的發(fā)射光譜,例如氧原子,氮原子,OH鍵,CH鍵等。通過在線監(jiān)測軟件,可以很直觀的獲得燃燒場的溫度分布等參數(shù)信息。


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