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產(chǎn)品展示

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寬帶隙小型深紫外光致發(fā)光光譜儀

  • 產(chǎn)品型號:MiniPL
  • 產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-19
  • 簡要描述:寬帶隙小型深紫外PL-Mapping(光致發(fā)光)光譜儀 采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器作為激發(fā)光源,通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器(Boxcar)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,實(shí)現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。


  • 產(chǎn)品介紹
寬帶隙小型深紫外PL-Mapping(光致發(fā)光)光譜儀

        光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個(gè)被普遍認(rèn)可的重要測量手段。MiniPL為模塊化設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL(光致熒光)光譜儀;MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源,配合*的光路設(shè)計(jì),采用高靈敏度PMT作為探測器件,并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器(Boxcar)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,實(shí)現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。MiniPL可被用表征半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等,不僅可用于科研領(lǐng)用,更可用在半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測。

主要規(guī)格特點(diǎn):

■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV(248.6nm)深紫外激光器

■ 室溫PL光譜測量范圍:190~650nm(標(biāo)準(zhǔn)),190~850nm(選配)

■ 高分辨率:0.2nm(@1200g/mm光柵,標(biāo)配),

                    0.07nm(@3600g/mm光柵,選配)

■ 門閘積分平均器(Boxcar)進(jìn)行微弱脈沖信號的檢測

■ 可實(shí)現(xiàn)量子效率測量

■ 基于LabView的界面控制

■ 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬、峰值波長、峰值副瓣鑒別、光譜數(shù)據(jù)運(yùn)算、歸一化等

■ 大可測量50mm直徑樣品,樣品可實(shí)現(xiàn)XYZ三維手動調(diào)整(標(biāo)準(zhǔn))

■ 可選配自動樣品掃描裝置,實(shí)現(xiàn)Mapping功能

■ 可用于紫外拉曼光譜測量

■ 高度集成化,體積:15 ×18  × 36cm,重量:<8kg

型號

規(guī)格描述

MiniPL 5.0eV

NeCu激光器(248.6nm),三維手動調(diào)節(jié)樣品臺,單光柵1200g/mm, PMT 190~650nm),驅(qū)動及軟件;

MiniPL 5.5eV

HeAg激光器(224.0nm) ,三維手動調(diào)節(jié)樣品臺,單光柵1200g/mm, PMT 190~650nm),驅(qū)動及軟件;

升級選項(xiàng)

光電倍增管選項(xiàng)

升級為190-850nm

光柵選項(xiàng)

增加第二塊光柵(3600g/mm

Mapping功能選項(xiàng)

升級為X-Y自動掃描樣品臺

低溫制冷選項(xiàng)

4K,6.5K10K低溫制冷樣品室,低震動設(shè)計(jì),振幅小于5nm

(選配低溫選項(xiàng)時(shí)不能同時(shí)進(jìn)行Mapping測量)

 AlGaN光致發(fā)光光譜及PL Mapping光譜(含3D圖譜),樣品尺寸:直徑50mm(樣品由客戶提供)

 

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