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平面材料漫反射率與透射率測(cè)量系統(tǒng)Omni-DR600
本系統(tǒng)結(jié)構(gòu)與Omni-DR300 相同,但系統(tǒng)測(cè)試光為由下至上8 度角聚焦光路,樣品盛放裝置為160x160mm 平臺(tái),方便放置各類平面待測(cè)物,如各類功能性布料。同時(shí),系統(tǒng)整合透過(guò)率測(cè)量探測(cè)器,可測(cè)量厚度為5mm 以下的各類透光材料,可將各類透光器件的漫反射率與透過(guò)率測(cè)量整合成一體。
■ 光譜測(cè)量范圍:350-2500nm
■ 光譜分辨率:2nm以下
■ 光譜掃描步距:0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置
■ 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:優(yōu)于±0.2nm(紫外-可見(jiàn)區(qū)),優(yōu)于±0.5nm(近紅外區(qū))
■ 光度測(cè)量準(zhǔn)確度:1%以內(nèi)(紫外-可見(jiàn)區(qū)),2%以內(nèi)(近紅外區(qū))
■ 光度測(cè)量重復(fù)性:1% (450nm-1800nm)
■ 測(cè)試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時(shí)測(cè)試透過(guò)率,則樣品厚度必須小于5mm
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